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PEEK IC測試座

PEEK在很廣的溫度范圍內(nèi)重我,保持良好的電氣性能、尺寸穩(wěn)定性和耐磨性玻冗,適合長時間高溫環(huán)境下使用启脉,可以延長IC測試座工作使用壽命杠卜,保證測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性逐枢。

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PEEK IC測試基板
PEEK IC測試基板

PEEK IC測試基板

PEEK IC測試座(測試插座遍跌、測試socket)作為半導(dǎo)體測試環(huán)節(jié)中的重要治具。它提供了一個可靠的兵扭、機械穩(wěn)定的連接點哑立,允許測試員對芯片進行測試,檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良,而不需要永久焊接或安裝到電路板上杰捂。

PEEK測試座

IC測試座(測試插座舆床、測試socket)作為半導(dǎo)體測試環(huán)節(jié)中的重要治具。它提供了一個可靠的嫁佳、機械穩(wěn)定的連接點挨队,允許測試員對芯片進行測試,檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良蒿往,而不需要永久焊接或安裝到電路板上盛垦。

IC芯片在做單片檢驗時,需要一種高溫下尺寸穩(wěn)定瓤漏、同時能承受成千上萬次接觸摩擦的測試座腾夯,采用PEEK材質(zhì)制成的IC測試插座具有以下更好的優(yōu)點:

1、PEEK在高溫下可以承受很高的靜態(tài)載荷蔬充,具有穩(wěn)定的高帶寬蝶俱,低電阻和低電感。

2饥漫、PEEK在很廣的溫度范圍內(nèi)跷乐,可以保持良好的尺寸穩(wěn)定性,長期可以在260℃的高溫下工作罗迎,適應(yīng)-40℃至125℃的工作環(huán)境泊宴,滿足各種極端條件下的測試需求,可以保證IC測試座工作時的高精度尺寸穩(wěn)定性秒足。

3钱图、PEEK高強度,具有超高的耐磨性寿伊,可以承受IC芯片的上萬次的接觸摩擦撩怀,保證IC測試座的可靠性。

 

隨著技術(shù)發(fā)展揽此,半導(dǎo)體芯片晶體管密度越來越高双竣,相關(guān)產(chǎn)品復(fù)雜度及集成度呈現(xiàn)指數(shù)級增長,這對于芯片設(shè)計及開發(fā)而言是前所未有的挑戰(zhàn)艘赂。

同時渤尚,隨著芯片開發(fā)周期的縮短,對于流片的成功率要求越來越高听誓,任何一次失敗催杆,對企業(yè)而言都是巨大損失。此外瑞你,半導(dǎo)體制程工藝不斷提升酪惭,需要面臨大量的技術(shù)挑戰(zhàn)希痴,半導(dǎo)體測試貫穿IC全產(chǎn)業(yè)鏈。

 

選擇合適的測試座材料是非常關(guān)鍵的春感,因為它直接影響到測試的準(zhǔn)確性和可靠性砌创。

 

不同IC測試座的材質(zhì)特征:

1、PEEK綜合性良好鲫懒,最常用的材料纺铭,適用于高低溫環(huán)境;

2刀疙、TORLON耐磨性佳舶赔,不適合高低溫,容易吸水產(chǎn)生變形谦秧;

3竟纳、PEEK5600ESD防靜電要求情況下使用;

4疚鲤、PI韌性好锥累,抗變壓能力強,抗吸水性溢扳,熔點高炸笋,但是價格貴。

 

君華一直為客戶提供高性能祠乔、高質(zhì)量的PEEK測試插座地毁,助力客戶精準(zhǔn)測量參數(shù),優(yōu)化對應(yīng)設(shè)計方案橱序,提升產(chǎn)品生產(chǎn)良品率唠延,可以根據(jù)客戶需求定制各種規(guī)格型號的PEEK IC Socket。

 

君華股份自2007年成立以來疫橘,專注于PEEK(聚醚醚酮)和PI(聚酰亞胺)等高分子樹脂袜簇、型材及制品的應(yīng)用研發(fā)及生產(chǎn),具有全產(chǎn)業(yè)鏈優(yōu)勢癌玩。

產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于電子半導(dǎo)體枷量、光伏和LED行業(yè),覆蓋生產(chǎn)設(shè)備污益、清洗桃熄、涂膠、刻蝕靶剑、CMP蜻拨、劃片和封裝測試等關(guān)鍵環(huán)節(jié)池充,相關(guān)制品有:Wafer handing tools(晶圓夾持工具)桩引、PEEK真空無痕吸盤缎讼、PI定制件、PEEK定制件坑匠、晶圓拖齒血崭、PEEK螺絲,螺母厘灼,墊片夹纫、CMP?PEEK保持環(huán)、電鍍選渡環(huán)设凹、晶圓支架舰讹、IC測試治具、PEEK絕緣板闪朱、PEEK板/棒/管螟衍、PI板/棒材等特種工程塑料制品及型材。

公司憑借全產(chǎn)業(yè)鏈優(yōu)勢冕泡,為高科技行業(yè)提供定制化解決方案佩捎,推動產(chǎn)業(yè)技術(shù)進步。

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